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Berliner Glas
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Messtechnik

Messtechnik - Überall einsetzbar, immer überzeugend

Metrology / Messtechnik

Messtechnik - Überall einsetzbar, immer überzeugend


Ob in der Geodäsie, Photogrammetrie, Laser Tracking, Scanning oder der Qualitätissicherung:

Die optischen Messsysteme von Berliner Glas überzeugen in der optischen Messtechnik durch Flexibilität und Präzision. Dabei ist für sie kein Objekt zu groß, zu klein oder zu komplex, um nicht präzise vermessen zu werden.

  • Optische Systeme zur Gebäudefassaden- oder Flugzeugvermessung
  • Optische Systeme zur dreidimensionalen Abbildung der Erdoberfläche
  • Optische Systeme für innovative und laserbasierte Messtechnik

Engineering    Entwicklung

  • Systementwicklung
  • Optik- und Mechanikdesign
  • Beschichtungsdesign
  • Produktbezogene Messtechnik

KeyComponents    Schlüsselkomponenten*

Material: optische Gläser, CaF2, MgF2, Quarz, Glaskeramik, Keramik, Borosilikatglas und Filterglas

 Sphärische Linsen

Maßebis Ø 500 mm
Radien1,2 mm bis
Zentrierfehler10"
Passfehlerλ/40 PV, gemessen bei 632,8 nm
Oberflächenfehler5/1 x 0,025
Mikrorauheit2 Å rms
Mittendickentoleranz+/- 3 µm
Durchmessertoleranz+/- 3 µm
 Asphärische Linsen
Maße                              
Ø 5 - 150 mm
Passfehler                    
λ/20 PV, konvex und konkav,
direktinterferometrische Messung
 Zylindrische Linsen
Radius                                     
2 - 50.000 mm
Längebis 500 mm, größer auf Anfrage
Linsenweitebis 300 mm
(abhängig von der Brennweite)
Passfehlerλ/8 PV, gemessen bei 632,8 nm
Oberflächenfehler5/1 x 0,025
Mikrorauheit2 Å rms
ZentrierungVerdrehung: 10", Versatz: 4 µm, Keil: 3µm

Planoptik                                 
                                                                              

 Fenster, Prismen und Prismensysteme

Maße                              
bis max. 1.500 mm
Planitätλ/40 PV, gemessen bei 632,8 nm
Parallelität1"
Winkelgenauigkeit1"
Mikrorauheit2 Å rms
Oberflächenfehler5/1 x 0,004

Mikrostrukturierung              
                                                                              

  • Strichplatten, Masken, Blenden, codierte und analoge Kreise
  • Strukturierte Beschichtungen
Beschichtung            
                                                       

  • Beschichtungsdesign
  • Spektralbereich: VUV, DUV, UV, VIS,
     NIR, IR entsprechend ca. 130 - 6.000 nm

Antireflexschichten                  
                                                                              

  • Breitband
  • V-Beschichtungen
  • W-Beschichtungen

Filter                                              
                                                                              

  • Kantenfilter
  • Bandpassfilter
  • Verlaufsfilter (neutral density filter)


Spiegel                                         
                                                                              

  • Metallische Spiegel
  • Dielektrische Spiegel
  • Laserspiegel mit hoher Zerstörschwelle

Strahlteiler/-kombinierer (verkittet/unverkittet)                                                            

  • Polarisierend (Polarisatoren)
  • nichtpolarisierend
  • Farbteiler
ITO-Schichten                         
                                                                          
Holografische Gitter                  
                                                                              

Assemblies    Baugruppen    BG Systems    Systeme

  • Optische Baugruppen und Systeme (verkittete Strahlteiler, Primensysteme, Doublets, Triplets, Stufensysteme)
  • Optomechanische Baugruppen und Systeme
  • Elektrooptische Systeme
  • Linsensysteme
  • Objektive, Zoomsysteme
  • Messsysteme
  • Kameras
  • Lasersysteme
  • Lichtquellen
  • Beleuchtungssysteme

Messtechnik

WellenfrontInterferometer (4 - 24"),
Shack-Hartmann-Wellenfront-Sensor
(UV, DUV, VIS, NIR)
Formabweichung3-D-Koordinaten-Messgerät,
Messtaster, CCD-Mikrometer,
Stitching-Interferometer
WinkelGoniometer, Interferometer,
Autokollimatoren
Transmission/ReflexionSpektralphotometer
OberflächengüteMessmikroskope
MikrorauheitWeißlicht-Interferometer,
Atomic Force Microscope
AbbildungsleistungComputergestützte MTF-Messanlage,
mikroskopischer Bildauflösungstest
ZentrierungObjektivprüfvorrichtung, Laserzentrierprüfgerät
Weitere funktionale MessungenBaugruppenspezifische Messvorrichtungen
FeinkorrekturverfahrenIonenstrahlverfahren, Roboterpolieren,
magnetorheologisches Verfahren
*Folgende Fehler- und Toleranzangaben weisen mögliche Grenzwerte auf.
 Spezifiziert und bewertet wird nach ISO/MIL/DIN.
Reinraummontage / cleanroom mounting
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